Projets soutenus

Ce projet correspond à l’achat d’un « scanner » de microfluorescence X rapide (μFRX) destiné à analyser de manière non invasive et non destructive les compositions élémentaires de grands échantillons. Il d’agit d’un spectromètre équipé d’un système de balayage rapide permettant de réaliser des cartographies chimiques élémentaires de la surface des objets (jusqu’à une profondeur variable selon les matrices et les pics d’émission considérés). L’appareil permet d’analyser de grandes surfaces (jusqu’à 800 mm x 600 mm). La taille du faisceau d’analyse peut être ajustée, jusqu’à une dimension minimale de 100 μm, en fonction de la structure de l’échantillon ou de la résolution désirée. Les performances analytiques de cet appareil sont intermédiaires entre celles d’un spectromètre portable et celles d’une ligne synchrotron (en matière de résolution spatiale notamment). L’appareil sera donc un outil privilégié pour affiner des mesures préliminaires faites avec des appareils portables ou, au contraire, identifier sur un objet les zones les plus pertinentes à une analyse sur ligne synchrotron. Il a été spécifiquement conçu pour les objets du patrimoine de formes et dimensions variées, nécessitant des précautions particulières quant à leur manipulation : les cartographies peuvent être réalisées verticalement ou horizontalement et, en dépit de son poids (300 kg), l’appareil, monté sur roulette, peut être aisément déplacé à l’intérieur d’un local. L’appareil permettra d’analyser la composition élémentaire de surfaces planes d’objets du patrimoine de nature très variées : fossiles (typiquement sur argilites), minéraux (repérage de mélanges de phases solides), comètes (sur des sections polies), carottes géologiques (sur une tranche rectiligne), tissus, poteries, masques, objets décorés, et documents graphiques, pour n’en citer que quelques-uns.